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主要特征
R1 角分辨光谱仪融合了复享首创的角分辨光谱技术与超精密的光学系统，专为多角度光谱探测需求而设计。通过最新升级的高精度旋转支架，R1能够精确操控光路360°空间旋转，搭配高信噪比的光谱仪，支持绝对光谱效率检测。此外，颠覆性的反射式光学系统，有效消除了220~2500nm宽波段色差。旨在为用户提供更多维度、更宽波段的高精度光谱分析体验，以满足微纳光学、发光材料等各领域的应用需求。
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应用领域
结构色：在不同角度下呈现多彩的外观是结构色的基本属性，因此需要系统具备多角度光谱检测能力。
光子晶体：光子晶体以其可调的能带结构实现光束偏振、方向、频率等特性的精确调控，因此需要系统具有准确表征能带结构的能力以指导优化制备工艺。
光学薄膜：光学薄膜在不同角度具有反射率差异，因此需要系统能够准确测量薄膜在不同角度下的反射率数据，以进行全面的性能评估和优化。
发光材料：空间光强分布是发光材料至关重要的指标。因此需要系统具有全方位接收发光信息的能力。
产品优势
R1 角分辨光谱仪具有以下显著特点：1.360° 角分辨光谱探测能力R1采用可旋转的转臂式光学系统，保持样品平放的同时，实现 360°角分辨光谱探测，全面满足不同样品的反射、透射、吸收、散射、辐射、自由、编程7种光谱测量模式；2.宽波段消色差R1采用全反射式光路，完美实现了220~2500nm宽波段的消色差，从而进一步提升了测量准确性；3.绝对透反射率测量经过标准反射率与透射率物质验证，可实现优于1%的反射率、透射率测量准确性；4.可视化数据分析软件R1配备的专有软件，不仅可实现自动化多模式光谱数据采集与光谱显示，还可实现复杂的数据分析功能，包括但不限于能带、色度以及散射分布等。
技术参数
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应用方向 >
光辐射调控中的应用 多层膜介质光栅中的应用 传输效率测量中的应用
