紫外-近红外高灵敏度 利用eXcelon™3技术,ProEM可在UV和NIR范围内提供最高的灵敏度(> 95%QE)的探测,同时减少了标准具效应,即因背照式EMCCD而产生的破坏性干涉条纹的出现。
电子增益校准 SOPHIA内置的参考光源保证了一键快速校准 保证长时间的稳定工作。
全幅转移的高速采谱技术 无需机械快门,允许连续成像或成谱 全幅成像速度达 34 fps,超高速模式可超过3kHz 偏置电压矫正系统提供平稳的信号基线。
技术参数
型号 |
分辨率 |
像素尺寸 |
像元大小 |
产品彩页 |
ProEM HS: 512BX3 |
512×512 |
16 x 16 μm |
0.001 e-/p/sec |
|
ProEM HS: 1024BX3 |
1024 x 1024 |
13 x 13 μm |
0.002 e-/p/sec; -70℃ |
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ProEM: 16002 eXcelon™3 |
1600 x 200 |
16 x 16 μm |
< 0.01 e-/p/s; -60℃ |
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ProEM: 16004 eXcelon™3 |
1600 x 400 |
16 x 16 μm |
< 0.01 e-/p/s; -60℃ |
BX3:背照式eXcelon™3技术
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